by 工業應用部 鄭弘毅 編輯：楊雅棠

高分子材料在不同領域的應用中扮演著重要的角色，包括民生、通訊、電子、生醫及航空設備等。這些材料的表面結構組成、粗糙度對許多應用來說都是至關重要的因素，必須嚴格地加以管控才能確保品質穩定。

以表面粗糙度來說，這可能影響到材料的機械性能、耐磨性和表面光滑度等重要特性。粗糙度參數的控制與終端產品的有優劣息息相關；輕則可能造成部分功能不良，嚴重的話甚至可能到完全故障。以粗糙度檢查而言，以往最普遍的方式是用傳統接觸式粗度計取得，藉由觸針與被測物體表面接觸來測量出表面的形貌變化，並記錄下粗糙度。

這種儀器的量測精度取決於探針的尺寸和靈敏度，通常適用於測量金屬、塑料、陶瓷等硬質材料表面的粗糙度。但受限於探針本身探頭大小的物理限制，在對於精度要求越來越高的趨勢下，已漸漸無法滿足現在的市場需求。再加上接觸的測量方式會導致表面受損或污染，且不適用於測量軟質、黏性或不規則形狀的物體。

這時可以用掃描電子顯微鏡（SEM）來觀察。但是，SEM雖可確切地看出表面形貌，卻不能將實際的三維數值資訊量化；加上SEM需要對樣品做前處理、破壞樣品，繁瑣的前置加工作業在使用上非常不便且耗時。種種因素之下，使得光學式檢測漸漸成為主流趨勢。

光學檢測儀器中，Olympus OLS5100便是一台高精度、奈米等級的非接觸式光學式三維檢測儀器，可幫助使用者更好且快速地了解材料表面的微幅起伏特徵和表現；同時非接觸式檢測的優點，可避免在表面上造成損傷。高分子材料和透明薄膜材料的表面粗糙度也能夠在拍攝出三維圖形後，經由內建公式計算出粗糙度量化資訊。

圖說：拍攝的表面三維成像，可用高度資訊圖的方式呈現，使用者更能對表面結構一目了然。

OLS5100實際操作非常簡單，使用者只需將樣品放在檢測區域中，然後按下開始測量的按鈕，儀器就會開始進行影像拍攝及計算。測量結果將顯示在螢幕上，並且可以將測量結果導出到電腦進行進一步的分析、量測及處理。