即使是製造部件上的微觀污染也會導致汽車、工廠設備、電子產品和其他產品出現故障或性能方面的問題。因此，製造商必須快速識別並降低可能會影響產品的安全性、耐久性和壽命的污染風險。高效的技術清潔度檢測系統可以説明您迅速採取應對措施，並確保產品的品質。
以下是技術清潔度檢測系統可以説明您更快地進行檢測的幾個因素。

1. 在一次掃查中探測到金屬和非金屬顆粒

加快技術清潔度檢測的最簡單的方法之一就是使用可以在一次掃查中探測到金屬（反光）和非金屬（非反光）顆粒的顯微鏡系統。識別金屬顆粒非常重要，因為這類顆粒更為堅硬，可能會對被測部件造成更大的損害。在傳統設置中，需要對被測樣品進行兩次成像才能探測到金屬顆粒。第一次掃查探測到所有顆粒，第二次掃查突出顯示金屬顆粒。檢偏鏡還必須在第一幅圖像和第二幅圖像之間旋轉90°角，這個過程比較耗時，因為需要對兩幅圖像進行繁瑣的調整和對齊操作。

相比之下，OLYMPUS CIX100技術清潔度檢測系統可以使用創新型偏光方法，基於波長分離和顏色辨別，通過多合一掃查方式，探測到從2.5微米到42毫米範圍內各種大小的金屬和非金屬顆粒。

這種檢測方法只需一個圖像就可以探測到顆粒，因此比需要兩個不同圖像的傳統方式快兩倍。由於這種方法不需要旋轉任何機械部件，因此也可以減少檢測儀器的磨損，並提高校準的穩定性。

2. 一次處理多個濾膜

如果您需要檢測多個濾膜，分別掃查這些濾膜可能會很耗時。使用可一次性檢測多個樣品的系統，可以加快您的工作流程。例如，CIX100系統可以在批量掃查模式下一次處理兩個樣品，迅速、高效地完成分析。

3. 即時分析顆粒污染，快速做出應對決策

另一個可以節省時間的功能是即時分析。在檢測過程中，CIX100系統將所有相關資料即時顯示在一個螢幕上，可使使用者即時監控結果，並在檢測失敗時迅速做出反應或停止檢測。

即時顯示的內容如下：

• 樣品資訊，顯示樣品檢測的所有參數，包括標準和分類測量
• 樣品概覽圖像，可使您在掃查過程中看到任何已被識別的顆粒
• 樣品資料獲取的剩餘時間
• 檢測結果：為金屬和非金屬顆粒自動計數，按大小分類，並以顏色編碼，以清楚地顯示哪些尺寸類別超出了預定的限制
• 聲音信號，當結果判讀為NOK（次品）或者檢測結束時，這個信號會被開啟

在掃查過程中，您可以完全控制檢測資料，從而可以快速做出決策，優化工作流程。

4. 直觀的工具使檢測變得更輕鬆

操作新手更容易出錯，會減慢檢測工作流程，並導致出現不準確的結果。因此，擁有一套可提供直觀功能的系統至關重要，例如：引導式工作流程和簡單的顆粒審核工具，有助於各種經驗水準的操作人員快速評估元件的清潔度，同時還可以獲得可靠的結果。

5. 包含自動報告製作功能

您的技術清潔度檢測系統應該能夠自始至終快速完成各個環節上的操作。如CIX100清潔度檢測設備這樣的自動化系統，不僅可以快速完成資料獲取，還可以同樣高效地完成最後的報告製作。系統中有用於製作報告的預定義範本，您只需點擊一下滑鼠，就可以生成專業、合規的報告。

6. 提供快速評估和重新計算的功能

在某些情況下，檢測結果需要根據不同的標準重新計算，或者修正評估中的錯誤，例如在調查中所清洗部件的數量有誤。CIX100系統可以存儲所有檢測資料，並在上述情況下快速進行重新歸一化和評估。不需要對樣品進行第二次掃查。

簡單、高速的工作流程，滿足了製造業的高品質標準

OLYMPUS CIX100技術清潔度檢測系統將一個耗時複雜的過程，變為一個簡便、高速的工作流程。這種簡化的解決方案符合有關汽車、醫療產品和其他關鍵系統的製造部件的主要國際標準。