細查樣本內部3D結構-高杉早苗談XRM應用

2024.06.03

高空間分辨率和穿透能力是3D X-ray顯微鏡(X-ray microscopy,XRM)的重要特性之一。其主要原理與醫用CT相同,但觀察物體的尺度在醫學用途上為毫米(10-3m)等級,但3D X-ray顯微鏡可觀察的尺度則在微米(10-6m)到奈米(10-9 m)之間。

而針對不同的應用,也必須調整不同的設定。Bruker X光線事業部的資深應用科學家高杉早苗(Sanae Takasugi)是到亞洲各地協助客戶操作設定機台,這次也遠從日本來台,協助元利儀器一起為客戶測試樣本和探索應用領域。

高杉早苗講解XRM應用
圖說:高杉早苗講解XRM應用。攝影:林任遠

利用X射線的穿透力,可以在無損害樣本的情況下觀察其內部結構。 當樣本結構的元素密集堆積時,代表X射線穿過材料的吸收係數會增加。因此呈現的透射影像,高密度區域會被記錄為暗陰影,輕材料的低密度區域會被記錄為淺陰影。

高杉表示,許多材料製造商過去想要看到樣本的內部結構,必須使用電子顯微鏡(SEM),然而使用SEM必須先進行前處理,且切片後看到的只是一部分,而不是「真實」的結構。

現在愈來愈多製造商,是基於想要控制品質和製程而想一窺產品的內部結構,若使用XRM,就能「透視」產品內部並快速建構出3D的結構,進行分析。

而穿透率和材料本身以及XRM的加速電壓有關。因此,如何針對待測樣本進行調校便非常重要。

高杉表示,加速電壓與X射線本身的能量成正比;能量越高,穿透材料的功率就越大。但穿透率並非愈高愈好,如果吸收或透射過多的X射線,材料的內部結構就會變得不清楚。

最理想的穿透率介在10%至50%之間,因此首先會先確認待測樣本是什麼材質,例如要觀測是PCB板上的銅,或是以矽為主的晶片結構等;依據其不同的原子序進行參數設定。

至於解析度則與樣本到X射線光源的距離有關,因此須依據受測樣本選擇適合的機型大小。以桌上型的SKYSCAN 1272為例,樣本直徑最大可達25mm,且有自動進樣器可容納不同尺寸的樣品。

台灣重視工業 日本重視研究

來台兩周的高杉,比較過去走訪亞洲各國協助建立Bruker系統的經驗。她表示,從待測樣本種類到服務提供方式都不同,是很深刻的經驗。

以待測樣本為例。由於市場不同,日本主要是研究單位來諮詢材料分析,例如針對地質或陶瓷等材料,使用XRM觀測空隙佔有率,對結構進行分析。至於台灣和韓國,因為半導體產業興盛,諮詢的對象大多是想用XRM快速地找到失效點,對製程進行優化。

而日本的服務也以線上諮詢為主,樣本多以郵寄方式送至Bruker原廠進行測試後,再用線上方式說明。台灣則喜歡實體諮詢,客戶多親自帶著樣本拜訪,和面對面詢問。高杉表示,面對面諮詢較能理解客戶的需求,非常喜歡這種方式。

藉由本次交流,元利儀器也學習到更多檢測拍攝技巧,針對半導體樣品、科學材料以及醫材有更深入了解。8月也將引進全新展示機,如有相關的檢測或服務需求,皆可洽詢元利儀器。

採訪編輯:楊雅棠

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