晶粒挑揀製程優化的最好幫手 – 高速攝影機
2021.02.05
By 元利工業應用部 李韋享
半導體晶片在完成繁瑣的製程後,還需要經由相關的檢測步驟,接著再以「揀晶機」挑揀初通過檢測的晶片,並進行封裝製程。其中挑晶這項動作,是足以影響製程良率、速度等因素的重大關鍵,在IC Die Bonding、IC Sorter等設備,甚至是Mini LED點測與分選設備中,是相當常見的機械行為。因此製程中的挑揀、分選的速度及效率就更趨重要,高速攝影機也儼然成為提升製程精度的最佳幫手。
1.探針慢速動作分析
由探針頂上來的晶粒必須直上直下,否則易發生歪斜的狀況,在高速攝影機中可以幫助檢查探針的位置,在操作上只要設定框率、快門速度後即可完成錄製,接著便可使用任意速度觀看。
2.真空吸嘴的吸晶分析
確認吸嘴的真空吸附情形,才能確保每一次的動作都能確實完成搬運。因此如何有效的提升製程速度以及精準度,就能從頂針、吸附、挑揀傳送等步驟去優化時間。
3.提供自動化的軟體整合設定
在晶片挑揀的過程,ixCameras還能提供後端的資訊讓AOI的程式撰寫人員撰寫整合軟體,進行全自動的檢測與障礙排除,可大幅降低人力、設備與時間成本。