Bruker X-ray Diffraction D8 ENDEAVOR

簡單、高速、靈活

• 極簡操作：直覺化觸控螢幕與圖形化介面，任何人都能輕鬆上手
• 一鍵範本：自動完成樣品載入、量測與數據分析
• 量身配置，靈活滿足水泥、礦物、製藥、鋁與金屬等多種產業需求
• 多元樣品載台：支援各種尺寸、粉末與特殊樣品
• 快速周轉：高效樣品處理，操作安全無曝露

即裝即用，適用任何環境與條件

可吸入性結晶型矽塵監測

D8 ENDEAVOR 適用於工作場所的可吸入性結晶型矽塵定量監測，透過 X 光繞射（XRD）進行快速且準確的分析。系統具備全自動量測策略，結合濾紙樣品灼燒前處理與 DIFFRAC.DQUANT 校正方法，可在每片濾紙僅 1 分鐘的量測時間內，定量低至 5 μg 的 α-石英含量。符合 NIOSH 7500 分析方法，協助產業因應更嚴格的 OSHA 暴露法規，確保工作環境安全與法規符合性。