Bruker X-ray Diffraction D6 PHASER

D6 PHASER 是一款功能強大的桌上型 XRD,憑藉小巧設計與高度靈活性,提供卓越的操作體驗。它突破傳統粉末 X 光繞射的限制,支援多種進階分析方法,讓複雜任務變得簡單高效,為科學研究與材料分析開啟全新可能。

 

 

一機掌握全方位 XRD

D6 PHASER 可同時支援 粉末繞射(反射/透射)、薄膜掠入角繞射(GID)、X 光反射率分析,以及塊體樣品的應力與織構分析。

  • 功率強大:最高 1.2 kW  X 光源,解析度媲美大型系統
  • 多用途:粉末、薄膜、塊體與電池樣品皆可分析
  • 精準可靠:動態光束最佳化,峰值位置精度 ±0.01° 2θ

一機即可滿足多樣分析需求,操作快速直覺,結果穩定可靠。

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即時視覺化,變化瞬間掌握

DIFFRAC.EVA 可快速視覺化大量 XRD 量測資料,即使面對數百至數千筆原位實驗資料,也能清楚呈現結構變化。使用者可針對單一資料進行物相鑑定,或透過 2D 視圖快速瀏覽整體趨勢,輕鬆辨識相變化與關鍵轉折點。電流與電壓等電化學參數亦可同步顯示,讓結構演變一目了然。

精準建模,看透電池內部

透過 DIFFRAC.TOPAS 的 Rietveld 全譜精修,D6 PHASER 可將數百至數千筆原位 XRD 資料轉化為完整電池內部圖像。使用者可輕鬆建立層堆疊模型,準確計算各層物相比例與晶格參數,涵蓋吸收修正、樣品位移修正與優選取向修正。模型建立後,未來分析只需載入資料集並單擊精修,即可快速完成,操作簡單高效。

精準可靠的 XRD 表現

極高峰位精度

全掃描範圍峰位偏差低於 0.01° 2θ,量測結果穩定可信,每一次測量都可發揮最大效能。

優異解析度

半高寬(FWHM)小於 0.03° 2θ,清楚分辨相鄰反射峰,完整呈現材料微觀結構與晶格細節。

低角度高品質測量

測量角度範圍低至 0.5° ,背景低且平滑,快速取得高品質繞射圖譜,輕鬆掌握樣品特性。

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