Bruker X-ray Diffraction D8 DISCOVER / DISCOVER PLUS

D8 DISCOVER 系列以超大儀器空間與模組化設計,打造高度彈性的 XRD 解決方案,可依應用需求自由配置。寬敞的安全防護機櫃搭配專利門體、直覺化狀態顯示與完善纜線管理,大幅提升操作效率與安全性。D8 DISCOVER PLUS 更採用高精度 ATLAS™ 測角儀與可選非共平面手臂,經 NIST 標準驗證,確保量測精度與長期穩定性,滿足高階材料研究需求。

先進 X 射線光源技術

D8 DISCOVER 系列可靈活選用多種X 射線光源,滿足不同樣本的 分析。如源自密封式 X 射線管的 TWIST-TUBE 技術,可快速在線光源與點光源間切換。IµS 微焦點光源結合 MONTEL 光學系統,可產生高亮度、平行性卓越的 X 射線光束。TXS 與 TXS-HE 光源搭配 DAVINCI 光學系統,可將旋轉陽極之效能徹底發揮。SNAP-LOCK 模組則可搭配所有X光源,提供靈巧的系統升級與擴充空間。

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多樣化樣品台配置

D8 DISCOVER 系列提供多種樣品台,可滿足不同尺寸與應用需求,包括卡口式快速更換台、底座安裝台,以及各種 XYZ 樣品台。

  • Compact UMC Plus 150
    具備大行程與無限旋轉功能,方便安裝額外配件,操作更穩定便利。
  • 歐拉搖籃(Eulerian Cradle)系列
    提供小型、標準及大型樣品台,另有適用多孔盤的特殊樣品台。

 

大多數樣品台皆可擴充功能,如毛細管固定或真空吸附平台,靈活滿足各種分析需求。

精準 XRD 測角儀技術

D8 DISCOVER 系列提供兩種測角儀選擇:

  • 標準 D8 測角儀

配備高精度燕尾導軌與卡口式樣品台,提供業界唯一的峰位對準保證。

  • ATLAS™ 測角儀(D8 DISCOVER PLUS 專屬)

具高精度定位與強大承載能力,支援 TXS-HE 光源與非共平面手臂,實現面內繞射測量及 160° 2θ 範圍。搭配 DIFFRAC 軟體,操作簡單高效,峰位精度 ≤ 0.007°,經 NIST 認證。

D8 DISCOVER 系列|滿足高階研究需求的極致 XRD 解決方案

最靈活的旗艦級 XRD 解決方案

D8 DISCOVER

D8 DISCOVER 是一款多功能且高度彈性的 XRD 解決方案,整合高亮度 X 射線光源、高承載 UMC 樣品台與寬敞機櫃設計,可支援大型與重型樣品分析。其應用涵蓋粉末、非晶、多晶材料及外延多層薄膜結構分析,全面滿足研究、開發與品質控制的多元需求。

極致精準的頂尖 XRD 解決方案 D8 DISCOVER PLUS

D8 DISCOVER PLUS 是追求極致量測表現的頂尖 XRD 解決方案,以高精度 ATLAS™ 測角儀為核心,結合 TXS-HE 超高亮度 X 射線光源與非共平面手臂,提供小於 0.007° 2θ 的峰位精度與卓越的面內繞射能力。其設計專為高階材料結構表徵而生,是先進研究與關鍵應用的最佳選擇。

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