Bruker X-ray Diffraction D8 DISCOVER / DISCOVER PLUS
D8 DISCOVER 系列以超大儀器空間與模組化設計,打造高度彈性的 XRD 解決方案,可依應用需求自由配置。寬敞的安全防護機櫃搭配專利門體、直覺化狀態顯示與完善纜線管理,大幅提升操作效率與安全性。D8 DISCOVER PLUS 更採用高精度 ATLAS™ 測角儀與可選非共平面手臂,經 NIST 標準驗證,確保量測精度與長期穩定性,滿足高階材料研究需求。
D8 DISCOVER 系列以超大儀器空間與模組化設計,打造高度彈性的 XRD 解決方案,可依應用需求自由配置。寬敞的安全防護機櫃搭配專利門體、直覺化狀態顯示與完善纜線管理,大幅提升操作效率與安全性。D8 DISCOVER PLUS 更採用高精度 ATLAS™ 測角儀與可選非共平面手臂,經 NIST 標準驗證,確保量測精度與長期穩定性,滿足高階材料研究需求。
D8 DISCOVER 系列可靈活選用多種X 射線光源,滿足不同樣本的 分析。如源自密封式 X 射線管的 TWIST-TUBE 技術,可快速在線光源與點光源間切換。IµS 微焦點光源結合 MONTEL 光學系統,可產生高亮度、平行性卓越的 X 射線光束。TXS 與 TXS-HE 光源搭配 DAVINCI 光學系統,可將旋轉陽極之效能徹底發揮。SNAP-LOCK 模組則可搭配所有X光源,提供靈巧的系統升級與擴充空間。
D8 DISCOVER 系列提供多種樣品台,可滿足不同尺寸與應用需求,包括卡口式快速更換台、底座安裝台,以及各種 XYZ 樣品台。
大多數樣品台皆可擴充功能,如毛細管固定或真空吸附平台,靈活滿足各種分析需求。
D8 DISCOVER 系列提供兩種測角儀選擇:
配備高精度燕尾導軌與卡口式樣品台,提供業界唯一的峰位對準保證。
具高精度定位與強大承載能力,支援 TXS-HE 光源與非共平面手臂,實現面內繞射測量及 160° 2θ 範圍。搭配 DIFFRAC 軟體,操作簡單高效,峰位精度 ≤ 0.007°,經 NIST 認證。
D8 DISCOVER 是一款多功能且高度彈性的 XRD 解決方案,整合高亮度 X 射線光源、高承載 UMC 樣品台與寬敞機櫃設計,可支援大型與重型樣品分析。其應用涵蓋粉末、非晶、多晶材料及外延多層薄膜結構分析,全面滿足研究、開發與品質控制的多元需求。
D8 DISCOVER PLUS 是追求極致量測表現的頂尖 XRD 解決方案,以高精度 ATLAS™ 測角儀為核心,結合 TXS-HE 超高亮度 X 射線光源與非共平面手臂,提供小於 0.007° 2θ 的峰位精度與卓越的面內繞射能力。其設計專為高階材料結構表徵而生,是先進研究與關鍵應用的最佳選擇。
X 射線繞射分析(XRD)可用於航太鈦合金的相組成分析與微結構研究,協助確認材料在鍛造、機械加工、熱處理或表面處理後的結構變化。
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在汽車與航太應用中,軸承最重要的規格之一,即為其微觀組織中殘餘奧氏體的含量。XRD是量測殘餘奧氏體最關鍵且最具代表性的分析技術。
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