D8 ADVANCE 系列提供高度整合的一站式 X 光繞射與散射分析方案，支援相鑑定、定量分析、結構與微結構研究，以及 XRR、SAXS 與配對分佈函數（PDF）等多元應用。ADVANCE 、ADVANCE ECO 與 ADVANCE PLUS 三種機型，分別在頂級粉末繞射數據品質、高效節能設計，以及全方位材料研究方面，滿足不同層級的應用需求。
D8 測角儀採用最新的 NIST 剛玉標準參考物質（SRM 1976） 進行儀器效能驗證，確保卓越的對準精度與量測可靠性。其堅固且免維護的測角儀設計，能在整個儀器使用壽命期間持續提供穩定且一致的效能表現。此外，D8 測角儀支援完整的 IQ／OQ 驗證程序，特別適合製藥產業等高度受法規監管的應用環境。
D8 ADVANCE 系列搭配 MTC-HIGHTEMP 高溫樣品台，可進行高達 1600 °C 的非室溫 XRD 測量，精準追蹤材料晶相轉變與高溫反應行為。系統可觀察鈦酸鋇（BaTiO₃）在 130 °C 的可逆相變，以及方鈣石（CaCO₃）與鈦酸鹽（TiO₂）形成 perovskite（CaTiO₃）的反應行為。透過 2D 強度圖完整掌握反應過程，協助研發與品質控制快速掌握材料結構演變，支援設計與製程優化。
Bruker 研發的 DAVINCI.DESIGN 繞射儀架構，讓X光系統實現模組化即插即用的操作模式，可彈性支援複數使用者情境與進階研究應用。在不需重新校正的前提下，能自動識別各項光束路徑元件，並即時完成對應調整，包含X光源、光學模組、樣品平台與偵測系統。結合專屬的虛擬測角儀軟體介面，可即時監控元件狀態，並主動提示任何潛在的配置衝突，使 D8 ADVANCE 成為兼具高度彈性與整合性的分析解決方案。整體操作流程直觀清楚，並具備完善防呆機制，無論初學者或資深使用者皆可快速上手。
入門級全尺寸測角儀，兼具優異分析效能與低持有成本。多種精簡化配置，靈活適應各種預算，並可與 D8 ADVANCE 完全相容，輕鬆升級未來需求。
卓越性能與簡易操作兼具，適用多晶粉末、層狀樣品及液體或固體塊材。自動化電動切換支援 4 種光束幾何配置，快速完成高品質 X 光繞射分析。
多用途、多使用者實驗室首選，可分析粉末、薄膜、塊材及磊晶樣品。支援最多 6 種光束幾何配置自動切換，操作便利，滿足全方位材料研究需求。
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