BRUKER D8 DISCOVER / DISCOVER PLUS - 元利儀器

Bruker X-ray Diffraction D8 DISCOVER / DISCOVER PLUS

D8 DISCOVER 系列是市場上最精確、強大且高度彈性的X射線繞射（XRD）解決方案之一，可依需求全面客製化，整合高效能X射線光源、精密測角儀、多模式探測器與專用光學系統，適用於從粉末繞射到先進材料與薄膜結構研究。其中，D8 DISCOVER PLUS 搭載高精度 ATLAS 測角儀與 Turbo X射線光源，提供業界領先的量測效能，是高階材料分析的理想選擇。

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高階X射線光源解決方案

D8 DISCOVER 整合多樣X射線光源配置，能因應各類分析任務的不同需求，提供靈活應變的選擇。採用 TWIST-TUBE 架構的密封式 X 光管，可在直線光束與點狀光束模式之間即時切換，大幅提升實驗調度效率；IµS 微焦點光源搭配 MONTEL 光學模組，輸出兼具高亮度與優異平行度的 X 射線束流。而 TXS 與 TXS-HE 光源結合 DAVINCI 光學設計，則能完整釋放旋轉陽極系統的高效優勢。所有光源皆支援 SNAP-LOCK 快速模組介面，使系統能隨需求進行升級與功能延伸，兼顧擴充性與投資彈性。

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微區晶相分布解析

D8 DISCOVER 在 μXRD 微區配置下，可對材料的微小區域進行高解析度 Phase Mapping 分析，清楚呈現不同晶相的空間分布與結構特性。系統適用於岩石切片、微電子互連結構等材料，能快速對應光學影像辨識特定晶相，如花崗岩中的黑雲母（Biotite）。對微電子材料，也可結合晶向分布分析（ODF），提供精準微結構資訊，協助研發決策與產品設計，提升分析效率與可靠性。

倒易空間映射（Reciprocal Space Mapping, RSM）

D8 DISCOVER 搭配 EIGER2 R 500K 偵測器，可快速進行大面積 RSM 分析，精準解析磊晶薄膜的應變、組成與晶域效應。系統適用 InₓGa₁₋ₓN LED、GaAs、Si₁₋ₓGeₓ 等材料，可一次捕捉多個薄膜與基板反射峰。透過靈活調整偵測器距離，兼顧大範圍覆蓋與高解析度，縮短掃描時間並提高分析效率，幫助研發與品質控制人員快速掌握薄膜結構，支援設計決策與產品優化。

D8 DISCOVER 系列｜滿足高階研究需求的極致 XRD 解決方案

最靈活的旗艦級 XRD 解決方案

D8 DISCOVER

D8 DISCOVER 是一款多功能且高度彈性的 XRD 解決方案，整合高亮度 X 射線光源、高承載 UMC 樣品台與寬敞機櫃設計，可支援大型與重型樣品分析。其應用涵蓋粉末、非晶、多晶材料及外延多層薄膜結構分析，全面滿足研究、開發與品質控制的多元需求。

極致精準的頂尖 XRD 解決方案 D8 DISCOVER PLUS

D8 DISCOVER PLUS 是追求極致量測表現的頂尖 XRD 解決方案，以高精度 ATLAS™ 測角儀為核心，結合 TXS-HE 超高亮度 X 射線光源與非共平面手臂，提供小於 0.007° 2θ 的峰位精度與卓越的面內繞射能力。其設計專為高階材料結構表徵而生，是先進研究與關鍵應用的最佳選擇。