結晶型二氧化矽（Respirable Crystalline Silica, RCS）廣泛存在於礦石、建材與工業製程中，在切削、研磨或開採過程中會產生可吸入性粉塵。這些粒徑微小的懸浮顆粒會隨著呼吸進入人體肺部，長期暴露可能導致矽肺症等職業病，因此各國對作業環境中的矽塵濃度皆有嚴格規範。
然而，空氣中粉塵通常為多種礦物混合物，且包含結晶與非晶成分，使得準確分析具有一定難度。特別是結晶型二氧化矽的不同多型，如 quartz、cristobalite 等，需加以精確區分以符合監測標準。
X 光繞射（XRD）是一種被廣泛採用的矽塵結晶標準分析方法，可直接辨識結晶結構並區分不同二氧化矽結晶的多型。透過對濾膜樣品的定量分析，XRD 能在複雜背景中準確測定結晶型矽含量，並達到高靈敏度檢測。
因此，XRD 已成為矽塵監測中不可或缺的關鍵技術，可有效支援職業安全評估與環境品質管理。
